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IGBT / SIC HIGH-TEMP HANDLER

高温测试,
依然保持全程可控

面向 IGBT 与 SiC 器件,集成自动上下料、预热、高温电测和视觉缺陷检测。

IGBT / SiC 高温分选测试机
RT300°C
RT–180°C预热温区
RT–300°C测试温区
±3°C温控精度
60 UPH55 秒测试节拍

SYSTEM OVERVIEW

为稳定、可重复的
高温测试而设计

01自动上下料

02双 ISO 环境

03AC / DC 电性能测试

04视觉缺陷检测

KEY SPECIFICATIONS

核心运行窗口

预热温区RT–180°C
测试温区RT–300°C
温控精度±3°C
产能60 UPH @ 55s

INLINE INTELLIGENCE

测试前后,
都可被视觉验证

定位检测判定

TECHNICAL RESOURCES

根据应用场景,
提供对应技术资料

提交器件类型、测试温度和目标节拍,工程师将准备对应规格与方案资料。

申请技术资料 →

POWER DEVICE TESTING

定义温度、节拍与检测目标,
我们完成系统化实现

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